歐奇奧中國亮相2018年中國材料大會

      2018中國材料大會于2018年7月13日在廈門會展中心開幕，會期歷時四天，參會人數(shù)多達6000人。中國材料大會作為中國材料研究學(xué)會的每年重要的系列會議，已經(jīng)成為從事新材料科學(xué)研究、開發(fā)和產(chǎn)業(yè)化的專家、學(xué)者、教授、科技工作者交流和共享研究成果的重要平臺。同時也為眾多儀器廠家向各高校、研究機構(gòu)和企業(yè)提供了展示新儀器及測試技術(shù)的機會。

      儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司攜Occhio粒度粒形分析儀系列以及DT-1202粒度及Zeta電位分析儀參加了此次盛會，向各位學(xué)者，老師和材料研究者展現(xiàn)和介紹了粒度粒形分析和原濃體系下測試粒度和zeta電位的新技術(shù)。比利時歐奇奧儀器公司已正式儀思奇科技作為歐奇奧中國技術(shù)中心。

       圖像法粒度和粒形分析儀作為新一代粒度分析儀，不僅可以獲得顆粒大小信息，也可以統(tǒng)計評價顆粒的形貌參數(shù)，圖像粒度儀的適用范圍并不局限于球形顆粒，可適用于所有顆粒形狀，即使片狀，棒狀，纖維狀顆粒都可以進行表征測量。圖像法粒度儀通過 取像可以確定顆粒的分散狀態(tài)，評價顆粒的形貌參數(shù)，甚至色彩信息。由于現(xiàn)代計算機技術(shù)的發(fā)展，采樣過程自動化，顆粒采集量可達上百萬個，使得無論是顆粒大小還是形貌統(tǒng)計都具有了重要的指導(dǎo)意義。其中歐奇奧儀器所*的表征衛(wèi)星粉的形貌評價參數(shù)，吸引了眾多老師的關(guān)注。對于評價3D打印粉等金屬粉末有著重要的價值和意義。

        超聲法粒度及zeta電位分析為表征原濃體系的粒度和zeta電位提供了有效且的手段。傳統(tǒng)方法采用動態(tài)光散射的方法，因此對于高濃體系需要進行多倍稀釋，對于類似黑色漿料，墨水等具有顏色的體系無法進行測量分析。而美國分散技術(shù)公司所研發(fā)和生產(chǎn)的超聲法粒度和zeta電位分析儀解決了此類問題。

      儀思奇科技是比利時歐奇奧公司（OCCHIO Instruments）和美國分散技術(shù)公司（Dispersion Technology）的中國技術(shù)中心。

      歐奇奧儀器公司成立于 2001年，是專業(yè)從事圖像法粒度粒形分析儀的開發(fā)和制造的儀器公司，擁有強大硬件設(shè)計和顆粒圖形統(tǒng)計處理能力，超過80個粒度與粒形參數(shù)，同行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品種類多，產(chǎn)品線齊全。歐奇奧依托于大學(xué)的研發(fā)力量，在光電子和計算機輔助圖像分析方面積累了豐富的經(jīng)驗，能夠在幾分鐘內(nèi)完成數(shù)萬顆粒的圖像采集、統(tǒng)計處理，快速提供的粒徑粒形信息。

       美國分散技術(shù)公司（Dispersion Technology）成立于1996年，現(xiàn)任董事長為Andrei Dukhin博士。基于前蘇聯(lián)兩代膠體化學(xué)家雄厚的理論基礎(chǔ)和貢獻（見文獻http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/ac9006683），美國分散技術(shù)公司專業(yè)開發(fā)和生產(chǎn)超聲衰減和電聲譜儀，以表征原濃體系的粒度分布、Zeta電位、流變性、電導(dǎo)率、孔隙率等，包括CMP漿料，納米分散體、陶瓷漿料、電池漿料，水泥，制藥乳劑等，并在多孔固體表面電位和孔隙率快速測定方面取得突破。其粒度和zeta電位測定方法均被采納為ISO的標(biāo)準(zhǔn)方法，用戶分布在包括中國在內(nèi)的30多個國家和地區(qū)。

       儀思奇科技（北京）科技發(fā)展有限公司業(yè)務(wù)專注于材料行業(yè)前沿儀器產(chǎn)品和技術(shù)的引進與推廣； 以應(yīng)用開發(fā)為先導(dǎo)、以維修服務(wù)為保障、以儀器為核心。雖然是一個年輕的企業(yè)，但是我們的專業(yè)團隊正在為用戶提供更的服務(wù)