氧化鋁粉體的靜態(tài)圖像粒度分析及其與掃描電鏡的比較

      為了地了解顆粒的圖像和粒度信息，運用一種新型的靜態(tài)圖像粒度分析技術(shù)，對5種工藝制備α氧化鋁的粒度和顆粒形貌進(jìn)行了定量分析，并與激光粒度儀的粒度分析結(jié)果和SEM顆粒形貌結(jié)果進(jìn)行了對比研究。結(jié)果表明，Occhio 500nano分析技術(shù)具有強(qiáng)大的高分辨采樣能力和對顆粒形貌進(jìn)行三維量化的微觀表征能力，可同時獲得包括顆粒的等效體積直徑、等效面積直徑、費雷特直徑、內(nèi)徑、厚度、小外接圓直徑等粒度參數(shù)，以及長寬比、無規(guī)度、沃德爾球形度、歐奇奧鈍度、歐奇奧粗糙度和分形維數(shù)等顆粒形貌分布數(shù)據(jù)。此外，該方法制樣簡單，可對數(shù)萬個顆粒形貌進(jìn)行定量統(tǒng)計分析，顆粒成像可與掃描電鏡實現(xiàn)很好的對應(yīng)，并能捕捉到激光粒度分析難以統(tǒng)計到的少于1%的超大顆粒，表現(xiàn)出很高的性、客觀性和可靠性。因此，這種新型的分析技術(shù)有望成為包括α氧化鋁在內(nèi)的多種粉體分析測試和工藝開發(fā)研究的有力工具。