通過動態(tài)光散射測量深色和高濃分散體系的粒度

Vasco納米粒度分析儀一種基于動態(tài)光散射（DLS）原理，可用于深色和高濃分散體系納米粒度測量的創(chuàng)新設(shè)備。傳統(tǒng)的DLS技術(shù)是表征納米顆粒粒度的有力手段。然而，由于激光束被樣品吸收并能引起干涉效應(yīng)，在深色介質(zhì)中變得無能為力。在高濃縮樣品的情況下，多重散射的現(xiàn)象也會使測量產(chǎn)生偏差。為了解決這些問題，本文提出了一種新穎的光學(xué)設(shè)計結(jié)構(gòu)，結(jié)合了背散射檢測技術(shù)和控制樣品厚度的功能。通過對乳膠分散體系的測試結(jié)果，論述了這些改進的益處。創(chuàng)新的算法實現(xiàn)了DLS的粒度分布的測定。